Книга є практичним керівництвом з питань отримання та інтерпретації мікроелектрограм для тонких монокристалічних та полікристалічних об'єктів. Описуються особливості електронограм від зазначених об'єктів, аналізуються можливі помилки при визначенні міжплощинних відстаней за електронограмами, розглядаються ефекти, що виникають на складних електронограмах через наявність упорядкованих фаз, виділень малих розмірів, двійкових піків тощо. Подано прийоми отримання мікроелектрограм, що забезпечують найбільшу точність відповідності дифракційної картини вибраному ділянці об'єкта та точність виконаних при розшифруванні вимірювань відстаней та кутів. Наведено значний довідковий матеріал: таблиці міжплощинних відстаней та кутів, стереографічні проекції для металів та сполук з різною кристалічною структурою.